高考物理一輪復(fù)習(xí) 培優(yōu)計劃 高考必考題突破講座（8）電學(xué)設(shè)計實驗的思想方法及解題策略課件

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1、恒定電流第第 八八 章章高考必考題突破講座高考必考題突破講座( (八八) )電學(xué)設(shè)計實驗的思想方法及解題策略電學(xué)設(shè)計實驗的思想方法及解題策略題型特點考情分析命題趨勢電學(xué)實驗是高考每年必考內(nèi)容，其中電學(xué)的設(shè)計性實驗又成為近幾年高考的熱點主要體現(xiàn)在運用新的實驗方法或新的數(shù)據(jù)處理方法處理新情景下的物理實驗問題，考查學(xué)生實驗的創(chuàng)新和原理遷移能力2016全國卷，232016全國卷，222016四川卷，8()2019年高考命題主要側(cè)重以下幾個方面考查：(1)實驗原理的理解；(2)實驗電路的設(shè)計(實驗電路的補充連線)；實驗數(shù)據(jù)的處理(尤其是結(jié)合解析或分析圖象)；(4)實驗誤差分析命命 題題 角角 度度突突

2、破破 訓(xùn)訓(xùn) 練練欄目導(dǎo)航題題 型型 結(jié)結(jié) 構(gòu)構(gòu)解解 題題 思思 維維真真 題題 剖剖 析析 1電阻的常規(guī)測量流程圖題題 型型 結(jié)結(jié) 構(gòu)構(gòu)解解 題題 思思 維維 (2)實驗試觸法 按如圖所示接好電路，讓電壓表一根接線柱P先后與A、B處接觸一下，如果電壓表的示數(shù)有較大的變化，而電流表的示數(shù)變化不大，則可采用電流表外接法；如果電流表的示數(shù)有較大的變化，而電壓表的示數(shù)變化不大，則可采用電流表內(nèi)接法 2儀器選擇的一般步驟 (1)首先選擇唯一性的器材 (2)粗畫電路圖(暫不接電流表和電壓表) (3)估算回路中電流和電壓的最大值，在電表的指針有較大幅度的偏轉(zhuǎn)但又不超過其量程的情況下，結(jié)合已知器材的規(guī)格，確定

3、實驗電路和實驗器材 測量電阻的方法很多，常用的有三種：第一種用多用電表歐姆擋直接測量電阻，優(yōu)點是簡捷方便，缺點是測量誤差較大；第二種是用伏安法測量電阻，優(yōu)點是測量誤差較小，精度比第一種高很多，缺點是間接測量，需計算修正；第三種是電橋法測量電阻，優(yōu)點是測量精度最高，缺點是不簡便，實驗步驟較復(fù)雜設(shè)計測量電阻的實驗，能考查學(xué)生的物理基礎(chǔ)知識和基本技能，有很好選擇功能受到命題者的青睞該類試題有如下幾個命題角度命命 題題 角角 度度 角度1等效替代法測電表內(nèi)阻 如圖甲所示，先將S2撥至a，閉合S1，調(diào)節(jié)變阻器R2，使電流表A2指示某一值I0.再將S2撥至b，保持R2不變，調(diào)節(jié)電阻箱R1，使A2恢復(fù)到原來

4、的值I0，則被測電流表A1的內(nèi)阻等于電阻箱R1的值同理將電流表A1換為電壓表V就可測量電壓表的內(nèi)阻，如圖乙所示 角度2附加電阻法測電阻 如圖所示，R1為一阻值較大的固定電阻，Rx為待測電阻 例1為了測量一微安表頭A的內(nèi)阻，某同學(xué)設(shè)計了如圖所示的電路圖中A0是標準電流表，R0和RN分別是滑動變阻器和電阻箱，S和S1分別是單刀雙擲開關(guān)和單刀開關(guān)，E是電池完成下列實驗步驟中的填空：真真 題題 剖剖 析析(1)將將S撥向接點撥向接點1，接通，接通S1，調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)_，使待測表頭指，使待測表頭指針偏轉(zhuǎn)到適當(dāng)位置，記下此時針偏轉(zhuǎn)到適當(dāng)位置，記下此時_的讀數(shù)的讀數(shù)I.R0 標準電流表標準電流表A0 (2)然后

5、將然后將S撥向接點撥向接點2，調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)_，使，使_，記下，記下此時此時RN的讀數(shù)的讀數(shù)(3)多次重復(fù)上述過程，計算多次重復(fù)上述過程，計算RN讀數(shù)的讀數(shù)的_，此即為待測微安表頭內(nèi)阻的，此即為待測微安表頭內(nèi)阻的測量值測量值RN 標準電流表標準電流表A0的讀數(shù)仍為的讀數(shù)仍為I 平均值平均值 解析本題為用替代法測未知電流表的內(nèi)阻，其實驗步驟為：(1)將S撥向接點1，接通S1，調(diào)節(jié)R0，使待測表頭指針偏轉(zhuǎn)到適當(dāng)位置，記下此時標準電流表A0的讀數(shù)I；(2)然后將S撥向點2，調(diào)節(jié)RN，使標準電流表A0的讀數(shù)仍為I，記下此時RN的讀數(shù)；(3)多次重復(fù)上述過程，計算RN讀數(shù)的平均值，此即為待測微安表頭內(nèi)阻的測量值