光學(xué)車間檢測原書第3版國際機械工程先進技術(shù)譯叢

光學(xué)車間檢測（原書第3 版）（國際機械工程先進技術(shù)譯叢）作 者：（墨） 馬拉卡拉主編，楊力等譯出 版 社：機械工業(yè)出版社出版時間： 2012-6-1版 次： 1 頁 數(shù)： 630 字 數(shù)： 1026000印刷時間： 2012-6-1開 本： 16 開紙張：膠版紙印 次： 1I S B N ： 9787111373766 包 裝：平裝內(nèi)容推薦光學(xué)車間檢測( 原書第 3 版 )/ 國際機械工程先進技術(shù)譯叢編著者馬拉卡拉。本書原著是光學(xué)檢測領(lǐng)域的權(quán)威著作之一，從第 1 版到第 3 版的再版歷時三十年時間，第一版都深受光學(xué)檢測領(lǐng)域讀者的歡迎。本書（原書第 3 版）詳細介紹了光學(xué)檢測領(lǐng)域的各種儀器、方法和技術(shù)手段，以及三十年來光學(xué)檢測領(lǐng)域的最新重要進展。本書共分 18 章，主要內(nèi)容包括：牛頓干涉儀，菲佐干涉儀，海丁格干涉儀，泰曼一格林干涉儀，共光路干涉儀，橫向剪切干涉儀，徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀，多光束干涉儀和多通道干涉儀的技術(shù)原理和使用方法；介紹了傅科刀口法、細絲法和調(diào)相法，朗奇檢驗法，哈特曼光闌檢驗、哈特曼一夏克光闌檢驗及其他光闌檢驗，星點檢驗法，非球面波前和鏡面的檢驗，澤尼克多項式與波前擬合，相移干涉測量，表面輪廓儀，多波長及白光干涉測量，散射表面光學(xué)檢測，角度、棱鏡、曲率半徑和焦距的測量，光學(xué)面及其特性的數(shù)學(xué)描述等光學(xué)檢測的主要技術(shù)手段和分析方法。本書可供從事光學(xué)檢驗、檢測、測試、計量與研究、設(shè)計與制造工作的廣大科技人員參考，也可作為教材供相關(guān)專業(yè)學(xué)生及教師使用。目錄叢序言第 3 版譯者的話第3版序第 1 章牛頓干涉儀、菲佐干涉儀和海丁格干涉儀1.1 引言1.2 牛頓干涉儀1.3 菲佐干涉儀1.4 海丁格干涉儀第 2 章泰曼格林干涉儀2.1 引言2.2 分光鏡2.3 相干性要求2.4 泰曼格林干涉儀的應(yīng)用2.5 干涉儀內(nèi)部畸變的補償2.6 非等程干涉儀2.7 開放光路干涉儀2.8 泰曼格林光路結(jié)構(gòu)的變形2.9 泰曼格林干涉圖及其分析第 3 章共光路干涉儀3.1 引言3.2 使用兩塊匹配散射板的伯奇干涉儀3.3 雙折射分光鏡3.4 橫向剪切干涉儀3.5 雙焦干涉儀3.6 桑德斯棱鏡干涉儀3.7 點衍射干涉儀3.8 采用共光路干涉儀的澤尼克檢測第 4 章橫向剪切干涉儀4.1 引言4.2 光源的相干性4.3 橫向剪切干涉計量的理論簡介4.4 未知波前的估計4.5 平行光橫向剪切干涉儀（白光補償）4.6 會聚光橫向剪切干涉儀（白光補償）4.7 使用激光的橫向剪切干涉儀4.8 其他類型的橫向剪切干涉儀4.9 矢量剪切干涉儀第 5 章徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀5.1 引言5.2 徑向剪切干涉儀5.3 旋轉(zhuǎn)剪切干涉儀5.4 反轉(zhuǎn)剪切干涉儀第 6 章多光束干涉儀6.1 發(fā)展簡史6.2 多光束干涉計量技術(shù)的精度6.3 多光束菲佐干涉儀6.4 等色序條紋6.5 多光束干涉測量中如何減少干涉條紋的間隔6.6 平行平面法布里珀羅干涉儀6.7 用法布里 ?珀羅干涉儀產(chǎn)生的托蘭斯基干涉條紋6.8 檢驗曲面用的多光束干涉儀6.9 耦合干涉儀和串聯(lián)干涉儀6.10 全息多光束干涉儀6.11 法布里 ?珀羅干涉條紋近代的發(fā)展和應(yīng)用6.12 結(jié)束語第 7 章多通道干涉儀 7.1 雙通道干涉儀7.2 多通道干涉儀第 8 章傅科刀口法、細絲法及調(diào)相法8.1 引言8.2 傅科檢驗法和刀口檢驗法8.3 細絲檢驗法8.4 普拉茲克 ?蓋維俄拉檢驗法8.5 調(diào)相檢驗法8.6 朗奇 ?康芒檢驗法8.7 結(jié)束語第 9 章朗奇（ Ronchi ）檢驗法9.1 引言9.2 幾何原理9.3 波面形狀的測定9.4 物理原理9.5 朗奇檢驗法的實際應(yīng)用9.6 其他幾種相關(guān)的檢驗9.7 結(jié)束語第 10 章哈特曼光闌檢驗、哈特曼 ?夏克光闌檢驗及其他光闌檢驗10.1 引言10.2 實例10.3 矩形光闌的哈特曼檢驗10.4 波面恢復(fù)10.5 四孔光闌的哈特曼檢驗10.6 眼鏡的哈特曼檢驗10.7 采用非矩形光闌的哈特曼檢驗10.8 哈特曼 ?夏克檢驗10.9 交叉圓柱鏡測試10.10 光源陣列或者網(wǎng)格測試10.11 邁克耳遜 ?加德納 ?貝尼特檢驗法10.12 其他進展狀況第 11 章星點檢驗法11.1 引言11.2 小像差星點檢驗11.3 小像差實測結(jié)果11.4 大像差星點檢驗11.5 由測得的斜率和曲率恢復(fù)波前11.6 根據(jù)光強傳遞方程由兩幅離焦像求解波前11.7 根據(jù)傅里葉迭代變換由一幅離焦像求解波前11.8 根據(jù)菲涅耳變換迭代由兩幅或三幅離焦像求解波前第 12 章非球面波前和鏡面的檢驗12.1 引言12.2 一些檢驗非球面波前的方法12.3 在非零位檢測中干涉圖的成像12.4 一些零位檢測的光路12.5 凸雙曲面的檢測12.6 檢測圓柱面12.7 早期的補償器12.8 奧夫納補償器12.9 反射式補償器12.10 用于二次凹面的其他補償檢驗法12.11 使用實全息圖的干涉儀12.12 應(yīng)用綜合全息圖的干涉儀12.13 利用雙波長全息圖檢驗非球面12.14 波前拼接第 13 章澤尼克多項式與波前擬合13.1 簡介13.2 具有圓形光瞳的旋轉(zhuǎn)對稱系統(tǒng)的像差13.3 含圓形光瞳而不含旋轉(zhuǎn)對稱軸的像差函數(shù)13.4 澤尼克環(huán)多項式作為環(huán)形光瞳系統(tǒng)的平衡像差13.5 利用離散波前誤差數(shù)據(jù)計算澤尼克系數(shù)13.6 總結(jié)第 14 章相移干涉測量14.1 導(dǎo)言14.2 基本原理14.3PSI 的優(yōu)勢14.4 相移的方法14.5 探測波前相位14.6 數(shù)據(jù)采集14.7PSI 算法14.8 相移校準14.9 誤差源14.10 探測器和空間采樣14.11 品質(zhì)函數(shù)14.12 相位解包裹14.13 非球面及擴展量程的PSI 技術(shù)14.14 其他分析方法14.15 計算機處理和輸出14.16 實現(xiàn)和應(yīng)用14.17PSI 技術(shù)的發(fā)展趨勢第 15 章表面輪廓儀、多波長及白光干涉測量15.1 表面輪廓儀介紹15.2 接觸式輪廓儀15.3 光學(xué)輪廓儀15.4 干涉光學(xué)輪廓儀15.5 雙波長和多波長技術(shù)15.6 白光干涉光學(xué)輪廓儀15.7 波長掃描干涉儀15.8 光譜分辨白光干涉測量15.9 偏振干涉測量15.10 光學(xué)測距方法15.11 總結(jié)第 16 章散射表面光學(xué)檢測16.1 莫爾條紋與條紋投影技術(shù)16.2 全息與散斑測試第 17 章角度、棱鏡、曲率半徑和焦距的測量17.1 引言17.2 角度測量17.3 棱鏡的測量17.4 曲率半徑的測量17.5 焦距測量第 18 章光學(xué)面及其特性的數(shù)學(xué)描述18.1 光學(xué)面的定義18.2 由非球面產(chǎn)生的焦散面18.3 球面的初始像差18.4 像散面18.5 離軸二次曲面