《超聲波檢測(cè)教案》由會(huì)員分享,可在線閱讀,更多相關(guān)《超聲波檢測(cè)教案(4頁(yè)珍藏版)》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。
1、1、何謂超聲波?它有哪些重要特性?
答:頻率高于20000Hz的機(jī)械波稱為超聲波。重要特性:①超聲波可定向發(fā)射,在介質(zhì)中沿直線傳播且具有良好的指向性。②超聲波的能量高。③超聲波在界面上能產(chǎn)生反射,折射和波型轉(zhuǎn)換。④超聲波穿透能力強(qiáng)。
2、產(chǎn)生超聲波的必要條件是什么?
答:①要有作超聲振動(dòng)的波源(如探頭中的晶片)。②要有能傳播超聲振動(dòng)的彈性介質(zhì)
什么是波長(zhǎng)?什么是頻率?
答:相鄰兩波峰(或波谷)的距離稱為波長(zhǎng),每秒鐘發(fā)生的波峰數(shù)稱為頻率
15.超聲波檢測(cè)利用超聲波的哪些特性? P4
答:①超聲波有良好的指向性。②超聲波在異質(zhì)介面上將產(chǎn)生反射、折射、波型轉(zhuǎn)換。③超聲波在固體中容
2、易傳播
超聲波的傳播速度 P7-8
超聲波垂直入射到界面時(shí)的反射和透射 P 15
超聲波傾斜入射到界面時(shí)的反射和透射 P 21
1.何謂超聲波聲場(chǎng)?超聲波聲場(chǎng)的特征量有哪些?
答:充滿超聲波的空間或超聲振動(dòng)所波及的部分介質(zhì),稱為超聲波聲場(chǎng)。描述超聲波聲場(chǎng)的物理量即特征量有聲壓、聲強(qiáng)和聲阻抗。聲壓:超聲波聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一瞬時(shí)所具有的壓強(qiáng)P與沒(méi)有超聲波存在時(shí)同一點(diǎn)的靜壓強(qiáng)P之差,稱為該點(diǎn)的聲壓。聲強(qiáng):?jiǎn)挝粫r(shí)間內(nèi)通過(guò)與超聲波傳播方向垂直的單位面積的聲能,稱為聲強(qiáng)。常用I表示。聲阻抗:介質(zhì)中某一點(diǎn)的聲壓P與該質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之比,稱為聲阻抗,常用Z表示,聲
3、阻抗在數(shù)值上等于介質(zhì)的密度與介質(zhì)中聲速C的乘積。
12.什么是波型轉(zhuǎn)換?波型轉(zhuǎn)換的發(fā)生與哪些因素有關(guān)?
答:①超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí),除產(chǎn)生入射波同類型的反射和折射波外,還會(huì)產(chǎn)生與入射波不同類型的反射或折射波,這種現(xiàn)象稱為波型轉(zhuǎn)換。②波型轉(zhuǎn)換只發(fā)生在傾斜入射的場(chǎng)合,且與界面兩側(cè)介質(zhì)的狀態(tài)
(液、固、氣態(tài))有關(guān)。
超聲波的衰減
13.什么是超聲波的衰減?引起超聲衰減的主要原因有哪些?
答:超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),隨著傳播距離的增加,超聲波的能量逐漸減弱的現(xiàn)象稱為超聲波的衰減。衰減的主要原因:
①擴(kuò)散衰減:由于聲束的擴(kuò)散,隨著傳播距離的增加,波束截面愈來(lái)愈大,從而使單位面積上的能量
4、逐漸減少。這種衰減叫擴(kuò)散衰減。擴(kuò)散衰減主要取決于波陣面的幾何形狀,與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。
②散射衰減:超聲波在傳播過(guò)程中,遇到由不同聲阻抗介質(zhì)組成的界面時(shí),發(fā)生散射(反射、折射或波型轉(zhuǎn)換),使聲波原傳播方向上的能量減少。這種衰減稱為散射衰減。材料中晶粒粗大(和波長(zhǎng)相比)是引起散射衰減的主要因素。
③吸收衰減:超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),由于介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)間的內(nèi)磨擦(粘滯性)和熱傳導(dǎo)等因素,使聲能轉(zhuǎn)換成其他能量(熱量)。這種衰減稱為吸收衰減,又稱粘滯衰減。
散射衰減,吸收衰減與介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān),因此統(tǒng)稱為材質(zhì)衰減。
21.超聲波檢測(cè)利用超聲波的哪些特性?
答:①超聲波有良好的指向性,在超聲波檢測(cè)中,
5、聲源的尺寸一般都大于波長(zhǎng)數(shù)倍以上,聲束能集中在特定方向上,因此可按幾何光學(xué)的原理判定缺陷位置。②超聲波在異質(zhì)介面上將產(chǎn)生反射、折射、波型轉(zhuǎn)換、利用這些特性,可以獲得從缺陷等異質(zhì)界面反射回來(lái)的反射波及不同波型,從而達(dá)到探傷的目的。③超聲波檢測(cè)中,由于頻率較高,固體中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)是難以察覺(jué)的。因?yàn)槁晱?qiáng)與頻率的平方成正比,所以超聲波的能量比聲波的能量大得多。④超聲波在固體中容易傳播。在固體中超聲波的散射程度取決于晶粒度與波長(zhǎng)之比,當(dāng)晶粒小于波長(zhǎng)時(shí),幾乎沒(méi)有散射。在固體中,超聲波傳輸損失小,探測(cè)深度大。
33.什么叫探傷靈敏度?常用的調(diào)節(jié)探傷靈敏度的方法有幾種?
答:探傷靈敏度是指在確定的探測(cè)范圍的
6、最大聲程處發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。有時(shí)也稱為起始靈敏度或評(píng)定靈敏度。通常以標(biāo)準(zhǔn)反射體的當(dāng)量尺寸表示。實(shí)際探傷中,常常將靈敏度適當(dāng)提高,后者則稱為掃查靈敏度或探測(cè)靈敏度。調(diào)節(jié)探傷靈敏度常用的方法有試塊調(diào)節(jié)法和工件底波調(diào)節(jié)法。試塊調(diào)節(jié)法包括以試塊上人工標(biāo)準(zhǔn)反射體調(diào)節(jié)和水試塊底波調(diào)節(jié)兩種方式。工件底波調(diào)節(jié)法包括計(jì)算法,AVG曲線法,底面回波高度法等多種方式。
34.焊縫斜角探傷中,定位參數(shù)包括哪些主要內(nèi)容?
答:缺陷位置的記錄應(yīng)包括下列各項(xiàng):①缺陷位置的縱坐標(biāo):沿焊縫方向缺陷位置到焊縫探傷原點(diǎn)或檢驗(yàn)分段標(biāo)記點(diǎn)的距離。記錄時(shí)應(yīng)規(guī)定出正方向。②缺陷深度:缺陷到探測(cè)面的垂直距離。③缺陷水平距離:缺陷在
7、探測(cè)面上的投影點(diǎn)到探頭入射點(diǎn)的距離,也稱作探頭缺陷距離。有時(shí)以簡(jiǎn)化水平距離代之,即缺陷在探測(cè)面上投影點(diǎn)到探頭前沿的距離,亦稱缺陷前沿距離。④探頭焊縫距離:探頭入射點(diǎn)到焊縫中心線的距離。⑤缺陷位置的橫坐標(biāo):缺陷在探測(cè)面上投影點(diǎn)到焊縫中心線的距離,記錄時(shí)應(yīng)規(guī)定的正方向。其數(shù)值可以從③、④兩參數(shù)之差求得。實(shí)際探傷中,由于焊縫結(jié)構(gòu)形式不同,缺陷定位時(shí),可依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)或檢驗(yàn)規(guī)程的要求,記錄以上全部或部分參數(shù)。
35.何謂缺陷定量?簡(jiǎn)述缺陷定量方法有幾種?
答:超聲波探傷中,確定工件中缺陷的大小和數(shù)量,稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長(zhǎng)度。缺陷的定量方法很多,常用的有當(dāng)量法,底波高度法和測(cè)長(zhǎng)法。
8、
36.什么是當(dāng)量尺寸?缺陷的當(dāng)量定量法有幾種?
答:將工件中自然缺陷的回波與同聲程的某種標(biāo)準(zhǔn)反射體的回波進(jìn)行比較,兩者的回波等高時(shí),標(biāo)準(zhǔn)反射體的尺寸就是該自然缺陷的當(dāng)量尺寸。當(dāng)量?jī)H表示對(duì)聲波的反射能力相當(dāng),并非尺寸相等。當(dāng)量法包括:①試塊比較法:將缺陷回波與試塊上人工缺陷回波作比較對(duì)缺陷定量的方法。②計(jì)算法:利用規(guī)則反射體的理論回波聲壓公式進(jìn)行計(jì)算來(lái)確定缺陷當(dāng)量尺寸的宣方法。③AVG曲線法:利用通用AVG曲線或?qū)嵱肁VG曲線確定缺陷當(dāng)量尺寸的方法。
37.什么是缺陷的指示長(zhǎng)度?測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度的方法分為哪兩大類?
答:按規(guī)定的靈敏度基準(zhǔn)。根據(jù)探頭移動(dòng)距離測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度
9、。測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度的方法分為相對(duì)靈敏度法和絕對(duì)靈敏度法兩大類。①相對(duì)靈敏度法:是以缺陷最高回波為相對(duì)基準(zhǔn)。沿缺陷長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭,以缺陷波輻降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來(lái)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度的方法。②絕對(duì)靈敏度法:是沿缺陷長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭,以缺陷波幅降到規(guī)定的測(cè)長(zhǎng)靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來(lái)測(cè)定長(zhǎng)度的方法。
38.什么是缺陷定量的底波高度法?常用的方法有幾種?
答:底波高度法是利用缺陷波與底波之比來(lái)衡量缺陷相對(duì)大小的方法,也稱作底波百分比法。底波高度法常用兩種方法表示缺陷相對(duì)大?。篎/B法和F/BG法:①F/B法:是在一定靈敏度條件下,以缺陷波高F與缺陷處底波高B之比來(lái)衡量缺陷的相對(duì)大
10、小的方法。②F/BG法:是在一定靈敏度條件下,以缺陷波高F與無(wú)缺陷處底波高BG之比來(lái)衡量缺陷相對(duì)大小的方法。底波高度法只能比較缺陷的相對(duì)大小,不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸。
99.名詞解釋:靈敏度
答:超聲探傷系統(tǒng)所具有的探測(cè)最小缺陷的能力
100.名詞解釋:吸收
答:由于部分超聲能量轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮芏鸬乃p
101.名詞解釋:遠(yuǎn)場(chǎng)
答:近場(chǎng)以遠(yuǎn)的聲場(chǎng),在遠(yuǎn)場(chǎng)中,聲波以一定的指向角傳播,而且聲壓隨距離的增大而單調(diào)地衰減
102.名詞解釋:重復(fù)頻率
答:?jiǎn)挝粫r(shí)間(秒)內(nèi)產(chǎn)生的發(fā)射脈沖的次數(shù)
103.名詞解釋:頻率常數(shù)
答:晶片共振頻率與其厚度的乘積
104.名詞解釋:聲場(chǎng)
11、的指向性
答:波源發(fā)出的超聲波集中在一定區(qū)域內(nèi),并且以束狀向前傳播的現(xiàn)象
105.名詞解釋:半波高度法
答:把最大反射波高降低一半(-6dB)用以測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度的方法
106.名詞解釋:臨界角
答:超聲束的某個(gè)入射角,超過(guò)此角時(shí)某種特定的折射波型就不再產(chǎn)生
107.名詞解釋:阻尼
答:用電的或機(jī)械的方法來(lái)減少探頭的振動(dòng)持續(xù)時(shí)間
108.名詞解釋:距離幅度校準(zhǔn)(距離幅度補(bǔ)償、深度補(bǔ)償)
答:用電子學(xué)方法改變放大量,使位于不同深度的相同反射體能夠產(chǎn)生同樣回波幅度的方法
109.名詞解釋:遲到回波
答:來(lái)自同一來(lái)源的回波,因所經(jīng)的路徑不同或在中途發(fā)生波型變換以致延
12、遲到達(dá)的回波
110.名詞解釋:界面波
答:由聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的交界面產(chǎn)生的回波
111.什么叫超聲場(chǎng)?反映超聲場(chǎng)特征的主要參數(shù)是什么?
答:充滿超聲波能量的空間叫做超聲場(chǎng),反映超聲場(chǎng)特征的重要物理量有聲強(qiáng)、聲壓、聲阻抗、聲束擴(kuò)散角、近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
112.超聲探傷儀最重要的性能指標(biāo)是什么?
答:超聲探傷儀最重要的性能指標(biāo)有:①分辨力;②動(dòng)態(tài)范圍;③水平線性;④垂直線性;⑤靈敏度;⑥信噪比
113.超聲波探傷試塊的作用是什么?
答:試塊的作用是:①檢驗(yàn)儀器和探頭的組合性能;②確定靈敏度;③標(biāo)定探測(cè)距離;④確定缺陷位置,評(píng)價(jià)缺陷大小
114.用CSK-1A試塊可測(cè)定儀器和探
13、頭的哪些組合性能指標(biāo)?
答:可測(cè)定的組合性能指標(biāo)包括:①水平線性;②垂直線性;③靈敏度;④分辨力;⑤盲區(qū);⑥聲程;⑦入射點(diǎn);⑧折射角
115.焊縫探傷時(shí),用某K值探頭的二次波發(fā)現(xiàn)一缺陷,當(dāng)用水平距離1:1調(diào)節(jié)儀器的掃描時(shí),怎樣確定缺陷的埋藏深度?
答:采用下式確定缺陷的埋藏深度:h=2T-(水平距離/K),式中:h-缺陷的埋藏深度;T-工件厚度;K-斜探頭折射角的正切值
6.波長(zhǎng)λ、聲速C、頻率f之間的關(guān)系是 λ=c/f
16.在平板對(duì)接焊縫的超聲波檢測(cè)中,為什么要用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材表面上進(jìn)行?
答:在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測(cè)便于檢出焊縫中各個(gè)方向的缺陷;便于使用
14、一次、二次聲程掃查整個(gè)焊縫截面,不會(huì)漏檢;有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后,可在另一側(cè)面進(jìn)行驗(yàn)證;一般母材表面光潔度比焊縫高,易于探頭移動(dòng)掃查,也可省去焊縫打磨的工作量
23.超聲波探傷中常用的方法有幾種?
答:常用兩種方法表示缺陷相對(duì)大小:F/B法和F/BG法。(F表示缺陷波高、B表示缺陷處底波高、BG表示無(wú)缺陷處底波高)。
24.超聲波焊縫檢驗(yàn)中,“一次波法”與“直射法”是否為同一概念?
答:是同一概念?!耙淮尾ǚā笔侵冈谛苯翘絺校暿唤?jīng)工件底面反射而直接對(duì)準(zhǔn)缺陷的探測(cè)方法,亦稱為直射法。
11.探頭保護(hù)膜的作用是什么?
答:保護(hù)膜加于探頭壓電晶片的前面,作用是保護(hù)壓電晶片和電極,防止其磨損和碰壞。
12.對(duì)探頭保護(hù)膜有哪些要求(至少3條)?
答:耐磨性好,強(qiáng)度高,材質(zhì)衰減小,透聲性好,厚度合適。
13.簡(jiǎn)述聚焦探頭的聚焦方法?
答:聚焦方法:凹曲面晶片直接聚焦 采用聲透鏡片聚焦。
14.簡(jiǎn)述聚焦探頭聚焦形式?
答:聚焦形式:點(diǎn)聚焦和線聚焦。
16.什么叫AVG曲線?
答:根據(jù)反射體的反射面積大小,離聲源的距離,反射信號(hào)的幅度三者之間的關(guān)系繪制的曲線,叫做AVG曲線